brdf/btdf是莱森光学一款专门测量光学材料表面的双向反射/透射分布函数和光学材料各向同性材料研究，该系统广泛应用于航天遥感、地质测量、精密制导、目标仿真, 光学设计, vr/vr/mr等领域。
双向反射透射分布函数光谱测量系统 产品详情
brdf/btdf是莱森光学一款专门测量光学材料表面的双向反射/透射分布函数和光学材料各向同性材料研究，该系统广泛应用于航天遥感、地质测量、精密制导、目标仿真, 光学设计, vr/vr/mr等领域。
brdf/btdf双向反射/透射分布函数光谱测量仪的测量平台如图所示。照明光纤探头和接收光纤探头分别固定在带滑轨的悬臂梁上，测试材料样片放置在样品台上，通过悬臂梁的圆周运动以及照明和接收光纤探头在悬臂梁上的滑动获得不同的光照与观测条件。整个过程在计算机的控制下实现数据的自动采集与处理。
原理图
光谱图
主要技术特点
1) 系统整体结构支架采用铝合金型材搭建，外表美观，结构稳定。
2) 光源及探测器支架采用弧形导轨，探测器以导轨做导向实现角度范围的测量；探头部分光纤连接，光纤有小弯折半径要求，所以要求光纤在弧形导轨上并随弧形导轨一起移动。
3) 三个独立的嵌套导轨系统满足各个探测器和光源能独自做旋转调整，光源调整轨道安装在300mm直径转台上，可沿z轴做水平转动，满足各方向精确角度的检测需求，二个独立导轨系统交于同一圆心（旋台中心），位于转台旋转轴线上，同轴误差0.5-1mm。
4) 样品台跟随旋转台一起转动，以实现探测方位角相对于样品能360度调整，而照明方位角相对于样品固定。
5) 电脑软件操作控制系统电机移动（在一台电脑上的一个软件中，调节方便），实现精确的点位控制，小角度分辨率0.5°，角度调节速度可控。
主要技术指标
型号
ls-brdf/btdf
测量光谱参数
光谱范围
可见光近红外：400~1100nm /400~1700nm/400~2500nm
光谱分辨率
可见光通道分辨率为1nm，近红外通道的分辨率为10nm
照明光源
调整
照明范围
自动调整：天顶角：θ=[0°;85°]；方位角相对于样品固定
角解析度
天顶角0.1°
定位精度
天顶角±0.1°
光源光谱范围
380~2500nm
照明光源
调整
光谱解析度
宽光谱输出,可配置滤光片调节输出
照明光源
150w卤素灯(halogen)
物体上被照明区域的大小
自动调整，10 mm直径
反射观测
调整
观测范围
自动调整：天顶角：θ=[0°;90°]（90°附近有10°左右观测死角）；
方位角：φ=[0°;360°]
角解析度
0.1°
定位精度
±0.1°
透射观测
调整
观测范围
自动调整：天顶角：θ=[0°;30°]；方位角：φ=[0°;360°]
角解析度
0.1°
定位精度
±0.1°
探测器及
光谱仪
光谱仪
380~1100nm /380~1700nm /380~2500nm
探测器光谱范围
200~2500nm
光谱波长解析度
1nm@380~1100nm；1.5nm@1000~1700nm；3nm@1000~2500nm
杂散光
≤0.1%